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18106904939LAP-S800激光粒(li)度分析(xī)儀
我公司(si)視“打造(zào)國産穩(wen)定的激(ji)光粒度(du)儀器"爲(wèi)己任,以(yi)科技創(chuang)品牌、質(zhì)量闖市(shi)場、信譽(yù)赢天下(xia)爲方針(zhēn),全力打(da)造超🌍穩(wěn)定、高性(xìng)價比的(de)國産激(jī)光粒度(du)儀器。
LAP-S800LAP-S800進(jin)行了防(fang)塵處理(lǐ)。

噴(pēn)霧激光(guang)粒度分(fèn)析儀主(zhǔ)要性能(neng)特點:
采(cǎi)用了分(fèn)體式結(jié)構,可測(ce)試遠距(ju)離樣品(pin),采用了(le)大平台(tái),即使一(yī)體式使(shǐ)用也能(néng)滿足0.1米(mi)到
*的光(guang)路設計(ji):
LAP-S800采用了(le)夫琅禾(hé)費衍射(shè)原理和(hé)典型的(de)平行光(guang)路設計(ji),配🔞備了(le)🐇大功率(lǜ)的半導(dǎo)體激光(guang)器;*的高(gao)密度探(tàn)測🏃🏻♂️單元(yuán),讓LAP-S800在0.1μm~800μm内無(wu)縫測試(shì)。同時LAP-S800又(you)加入了(le)光路自(zi)動調整(zheng)裝置,方(fang)便操作(zuò)的同時(shi)又😄延長(zhǎng)了儀器(qì)的适用(yòng)壽命。
大(dà)功率半(ban)導體激(jī)光器:
LAP-S800采(cai)用了大(da)功率的(de)半導體(tǐ)激光器(qi),增強了(le)儀器的(de)分辨能(neng)力,使小(xiǎo)顆粒也(yě)無處藏(cáng)身。
光路(lu)自動校(xiào)對:
LAP-S800在噴(pen)霧粒度(du)儀中加(jia)入了自(zi)動對中(zhong)功能,LAP-S800加(jia)入的光(guāng)路自動(dòng)調整系(xì)統,保證(zheng)了儀器(qì)測量的(de)穩定性(xìng)、準确性(xìng)。同時大(dà)量減少(shǎo)操作者(zhě)的工作(zuo)強度。
進(jin)口的鏡(jing)頭:
LAP-S800150毫米大(da)口徑長(zhang)焦距鏡(jìng)頭,顆粒(lì)探測更(geng)加準确(què)。
超寬量(liàng)程:
量程(chéng)達到了(le)~800μm。
輔光定(dìng)位:
LAP-S800加入(ru)了輔光(guang)定位功(gōng)能,定位(wèi)時發射(shè)端兩束(shù)激光同(tong)🌈時發出(chu),接收端(duan)雙點吻(wěn)合後接(jie)收端即(jí)可啓動(dong)光路自(zì)動調整(zhěng)🍓系統,大(da)大簡化(hua)了調整(zheng)難度。
強(qiáng)大的分(fèn)析軟件(jian):
強大的(de)分析軟(ruǎn)件可以(yi)随時記(ji)錄所有(yǒu)激光束(shù)的内所(suǒ)有霧滴(dī)的⛱️粒度(dù)分布。在(zai)激光束(shù)内移動(dong)噴霧測(cè)試🚩結果(guo)可以被(bèi)連續記(ji)錄和統(tǒng)計分析(xī)。
主要技(ji)術參數(shu):
規(guī)格型号(hào) | LAP-S800 | |
0.1 | ||
探測(ce)器通道(dào)數 | 66 | |
準确性(xing)誤差 | ||
(國家标(biāo)準樣品(pǐn)D50值) | ||
4khz | ||
激光器(qì)參數 | 功率1-40mw可(ke)調 | |
關鍵參(can)數 | 測量區(qu) | 0.1-3米标(biao)配,可根(gen)據需求(qiú)加長 |
鏡頭(tou) | 佳(jiā)能高性(xing)能鏡頭(tóu) | |
鏡(jing)頭保護(hù) | ||
進(jin)樣方式(shì) | 噴(pēn)射(包含(hán)霧滴和(he)固體粉(fěn)末) | |
操(cao)作模式(shi) | ||
測(ce)試速度(dù) | <1min/次 | |
重量(liang) | 25Kg | |
軟件(jiàn)功能 | |
測試(shì)報告 | 測試(shi)報告可(kě)導出Word、Excel、圖(tu)片(Bmp)和文(wén)本(Text)等多(duō)種形式(shi)的文檔(dàng),滿足🐪在(zai)任⁉️何場(chang)合下查(cha)看測試(shi)報告以(yi)及科研(yan)文章中(zhōng)引用測(cè)試結果(guo) |
自(zi)行DIY | 用戶自(zi)定義要(yao)顯示的(de)數據,根(gen)據粒徑(jìng)求百分(fen)比、根據(ju)百分比(bi)求🔞粒徑(jing)或根據(ju) |
統(tǒng)計方式(shì) | |
統計比(bi)較 | 可針對(duì)多條測(cè)試結果(guo)進行統(tǒng)計比較(jiào)分析,可(kě)明顯對(dui)比不同(tóng)批🚩次樣(yang)品、加工(gong)前後樣(yàng)品以及(jí)不同時(shi)間測試(shì)⁉️結果的(de)差異,對(dui)工業原(yuan)料質量(liàng)控制具(jù)有很強(qiang)🌍的實際(ji)意義 |
分析(xi)模式 | 包括(kuo)自由分(fen)布、R-R分布(bù)和對數(shu)正态分(fen)布、按目(mu)分級統(tong)計模式(shì)等,滿足(zú)不同行(háng)業對被(bèi)測樣品(pǐn)粒度統(tong)計方式(shì)的㊙️不同(tong)要求 |
粒徑(jìng)區間求(qiu)百分比(bi),以滿足(zu)不同行(hang)業對粒(lì)度測試(shi)的表征(zhēng)方式✂️。徑(jìng)距、一緻(zhi)性、區間(jiān)累積等(děng)等 | |
智能操(cao)作模式(shì) | |
多語(yǔ)言支持(chi) | 中(zhong)英文語(yǔ)言界面(mian)支持,還(hai)可根據(ju)用戶要(yao)求嵌入(ru)其他語(yu)言界面(miàn)。 |
測(cè)試報告(gao):

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